石英晶體微量天平是一種基于石英晶體壓電效應(yīng)的高靈敏度質(zhì)量檢測儀器，其測量精度可達(dá)納克級，比靈敏度在微克級的電子微天平高1000倍，理論上可測到相當(dāng)于單分子層或原子層幾分之一的質(zhì)量變化。

　　石英晶體內(nèi)部每個晶格在不受外力時呈正六邊形，若在晶片兩側(cè)施加機(jī)械壓力，晶格電荷中心偏移產(chǎn)生極化，在相應(yīng)方向形成電場；反之，在晶體兩電極加電場，晶片會產(chǎn)生機(jī)械形變，此為壓電效應(yīng)。當(dāng)在晶片兩極加交變電壓，晶片會產(chǎn)生機(jī)械振動，同時產(chǎn)生交變電場。當(dāng)外加交變電壓頻率為特定值時，振幅明顯加大，即壓電諧振。其振蕩器由石英諧振器構(gòu)成，電路振蕩頻率等于石英晶體振蕩片的諧振頻率，通過主機(jī)將測得的諧振頻率收集并轉(zhuǎn)化為電信號輸出。由于晶片諧振頻率與切割方式、幾何形狀、尺寸有關(guān)且可精確控制，所以組成的振蕩電路頻率穩(wěn)定度高。Sauerbrey研究發(fā)現(xiàn)，晶體表面鍍薄膜時振動減弱，且振動或頻率減少由薄膜厚度和密度決定，在特定條件下得出QCM諧振頻率變化與外加質(zhì)量成正比的結(jié)論，通過Sauerbrey方程可計(jì)算吸附物質(zhì)質(zhì)量。

　　石英晶體微量天平在測量過程中的操作要點(diǎn)：

　　1、初始化與校準(zhǔn)

　　開機(jī)后需預(yù)熱儀器（通常30分鐘以上），待電子元件穩(wěn)定后再開始測量。

　　每次實(shí)驗(yàn)前進(jìn)行空白校準(zhǔn)：在空載狀態(tài)（或僅接觸空氣/溶劑）下，記錄初始頻率（f?），確保頻率波動在儀器允許范圍內(nèi)（如±1Hz/分鐘）。

　　若測量液體環(huán)境，需先在純?nèi)軇┲蟹€(wěn)定30分鐘，待頻率穩(wěn)定后（漂移≤5Hz/10分鐘）再加入待測樣品，消除溶劑黏度、密度變化的干擾。

　　2、參數(shù)設(shè)置

　　根據(jù)樣品特性調(diào)整測量模式：靜態(tài)測量（記錄平衡態(tài)頻率）或動態(tài)測量（實(shí)時監(jiān)測頻率隨時間變化）。

　　設(shè)定合理的采樣間隔（如1-10秒），避免間隔過長遺漏關(guān)鍵變化，或過短導(dǎo)致數(shù)據(jù)冗余。

　　3、液體環(huán)境測量注意事項(xiàng)

　　確保液體完q覆蓋晶體表面但不溢出測量池，避免氣泡產(chǎn)生（可通過緩慢注入液體或超聲脫氣解決）。

　　液體流速需穩(wěn)定（如使用蠕動泵控制），劇烈流動會導(dǎo)致晶體振動干擾，頻率信號出現(xiàn)尖峰。

　　避免測量強(qiáng)腐蝕性（如濃酸、強(qiáng)堿）或高黏度（如油脂、凝膠）液體，前者會腐蝕電極，后者會增加晶體振動阻尼，導(dǎo)致信號失真。